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Product catalog

精密定位系統(tǒng)/平移臺

2023
6.12

Moku云編譯 + ChatGPT: 客戶定制化需求的天花板

Moku云編譯+ChatGPT:客戶定制化需求的天花板Moku：pro不僅能夠解決大多數電學信號的測試和ji具難度的測量實驗，而且能夠支持jian端實驗，并能在設計具有du特要求的先jin產品時，具有優(yōu)xiu的表現(xiàn)?？茖W家和工程師們經常會在軟件中進行方便的離線模擬或數據處理，此時他們會通過用戶可編程FPGA找到更高性能的解決方案。然而，盡管它們很有用，但這些解決方案有時候也會很復雜且難以實現(xiàn)。MokuCloudCompile(MCC)云編譯為熟悉FPGA編程的用戶xiao除了...
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2023
6.8

透射光學材料的介紹

光學成像要通過光學零件的折射和反射來實現(xiàn)，決定一種材料能否用來制造光學零件，要看它對要求成像的波段是否透明，或者在反射的情況下是否具有足夠高的反射率。對于透射光學零件來說，透射材料的特性除了透過率之外，還有它對各種特征譜線的折射率，其中以D或d線的折射率nD或nd以及F線和C線的折射率差nF-nc作為其主要的光學性能參數，這是因為F線和C線接近人眼光譜靈敏極限的兩端，而D線或d線在其中間，接近人眼靈敏的波長，nd稱為平均折射率，nF-nc稱為平均色散。此外，將?d=(nd-1...
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2023
5.29

鎖模激光器的原理

在一個簡單的激光器中，每一個模式都獨立地振蕩，彼此之間沒有固定的關系，本質上就像一組獨立的激光器，它們都以略微不同的頻率發(fā)光。每種模式中光波的各個相位都不是固定的，可能會因激光器材料的熱變化等因素而隨機變化。在只有少數振蕩模式的激光器中，模式之間的干擾會導致激光輸出中的拍頻效應，導致強度波動；在具有數千個模式的激光器中，這些干擾效應趨于平均到接近恒定的輸出強度。如果不是獨立振蕩，而是每個模式運行時與其他模式之間保持固定的相位差，則激光輸出的行為會截然不同。激光模式將周期性地相...
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2023
5.22

點衍射干涉儀的精度檢驗方法

點衍射干涉儀的精度檢驗方法點衍射干涉儀（PointDiffractionInterferometer，PDI）是一種基于衍射干涉原理的光學測量設備。它利用激光束小孔后產生接近理想的點光源對物體表面進行測量，可以實現(xiàn)對物體形狀、表面粗糙度、折射率等參數的高精度測量。點衍射干涉儀不需要標準參考件，可以用于超高精度面型的檢測，是一種非常重要的高精度測量儀器。1.1測試光路測試系統(tǒng)主要由D7點衍射干涉儀主機，準直器，5mm口徑鋁鏡，光學平臺等構成。1.2測試環(huán)境溫度：21℃&plus...
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2023
5.22

非接觸式金屬膜厚測量儀的原理及應用

非接觸式金屬膜厚測量儀是一種常見的表面分析儀器，其原理基于光學干涉或者電磁感應等技術。相比于傳統(tǒng)的劃痕法和化學分析法，非接觸式金屬膜厚測量儀具有高精度、快速和不破壞測試樣品等優(yōu)點，廣泛應用于材料科學、電子工程、光學制造等領域。原理是利用光學干涉原理或電磁感應原理來測定薄膜的厚度。其中，光學干涉法是通過反射光線之間的干涉來測量薄膜的厚度，而電磁感應法則是依靠磁場的變化來檢測薄膜的存在和厚度。這些原理都是建立在測量薄膜對光線或磁場的影響上，通過實時監(jiān)測信號變化來計算出薄膜的厚度。...
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2023
4.27

Up to 98%光利用率—鍍介質鏡型純相位高速高損傷閾值SLM!

Upto98%光利用率——鍍介質鏡型純相位高速高損傷閾值SLM！液晶空間光調制器（SLM）可以將數字化數據轉換為適合各種應用的相干光學信息，包括雙光子/三光子顯微成像、光鑷、自適應光學、湍流模擬、光計算、光遺傳學和散射介質成像等應用。這些應用需要能夠輕松快速地改變相干光束波前的調制器。通過將液晶材料的電光性能特征與基于硅的數字電路相結合，MeadowlarkOptics現(xiàn)在提供了高分辨率的SLM，這些SLM還具有物理緊湊性和高光學xiao率。圖一：緊湊的HSP1K（1024×...
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2023
4.17

膜厚測量儀的應用場景

膜厚測量儀主要采用了X射線熒光光譜技術（XRF技術），通過發(fā)射出的X射線來對材料內部的分子結構進行分析，從而得到材料的厚度和組成。X射線通過材料后，與材料中的元素反應并產生熒光信號，該熒光信號的波長和強度反映了樣品中的元素種類和含量。通過這種方式來測量薄膜的厚度以及成分。應用場景：1、半導體加工在半導體制造業(yè)中，不同工藝步驟所涉及的膜厚以及成分都不同，需要采用高靈敏度的儀器來進行檢測。膜厚測量儀能夠精確測量超薄膜，對后續(xù)工序制定提供參考。2、金屬材料檢測在金屬材料制造業(yè)中，需...
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2023
4.13

膜厚測量儀在多個行業(yè)中都有著廣泛的應用

膜厚測量儀是一種廣泛應用于材料科學和工業(yè)生產中的精密測量設備。膜厚測量儀的主要作用是通過利用特定實驗方法和設備對薄膜進行精確測量。膜厚測量儀可以廣泛應用于多個領域，如電子、照明、建筑、半導體、光學、制藥、航空等。1.電子行業(yè)在電子行業(yè)中，膜厚測量儀被廣泛應用于半導體、面板顯示器、光學存儲器、光電元件等制造產業(yè)中。通過利用膜厚測量儀可以幫助生產商更好地掌握產品的質量和性能特征，提高產業(yè)的競爭力。2.照明行業(yè)在照明行業(yè)中，膜厚測量儀的主要應用是幫助測量光伏電池的光電轉化率，以及測...
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